◆ 規(guī)格說(shuō)明:
產(chǎn)品規(guī)格 |
8*8 |
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電議 |
◆ 產(chǎn)品說(shuō)明:
2025歡迎訪問(wèn)##黔東JLRSPL-100-0.4-3尖峰綜合諧波
保護(hù)器廠家
湖南盈能電力科技有限公司,專業(yè)
儀器儀表及自動(dòng)化控制設(shè)備等。電力
電子元器件、高
低壓電器、電力金具、電線電纜技術(shù)研發(fā);防雷裝置檢測(cè);儀器儀表,研發(fā);消防設(shè)備及器材、通訊終端設(shè)備;通用儀器儀表、電力電子元器件、高低壓電器、電力金具、建筑材料、水暖器材、壓力管道及配件、工業(yè)自動(dòng)化設(shè)備銷;自營(yíng)和各類商品及技術(shù)的進(jìn)出口。
的產(chǎn)品、的服務(wù)、的信譽(yù),承蒙廣大客戶多年來(lái)對(duì)我公司的關(guān)注、支持和參與,才鑄就了湖南盈能電力科技有限公司在電力、石油、化工、鐵道、冶金、公用事業(yè)等諸多領(lǐng)域取得的輝煌業(yè)績(jī),希望在今后一如既往地得到貴單位的鼎力支持,共同創(chuàng)更加輝煌的明天!
線性度、精度、采樣速率和混疊現(xiàn)象都會(huì)影響轉(zhuǎn)換結(jié)果的有效性。量化誤差和線性誤差可能影響實(shí)際有效分辨率的位數(shù)。這都將影響模數(shù)轉(zhuǎn)換結(jié)果的有效數(shù)字位數(shù)。中ADC可對(duì)模擬輸入信號(hào)一種階梯狀的近似。在這種結(jié)果中存在由于溫度漂移、線性誤差和
其它因素引起的誤差,從而導(dǎo)致轉(zhuǎn)換結(jié)果比實(shí)際的有效位數(shù)減少。模擬微控制器的性能或精度會(huì)由于其內(nèi)部緊密靠近受到影響嗎?大多數(shù)精密模擬微控制器被設(shè)計(jì)用來(lái)程度減少系統(tǒng)中模擬和數(shù)字部分之間的任何干擾問(wèn)題,因?yàn)樵谕恍酒瑑?nèi)單獨(dú)的ADC或DAC將它們的模擬和數(shù)字元件隔離。
測(cè)量勵(lì)磁線圈對(duì)地(測(cè)線號(hào)“1”和“7”或“8”)絕緣電阻來(lái)判斷
傳感器是否受潮,電阻值應(yīng)大于20兆歐。測(cè)量電極與液體接觸電阻值(測(cè)線號(hào)“1”和“2”及“1”和“3”),間接評(píng)估電極、襯里層表面大體狀況。如電極表面和襯里層是否附著沉積層,沉積層是具有導(dǎo)電性還是絕緣性。它們之間的電阻值應(yīng)在1千歐~1兆歐之間,并且線號(hào)“1”和“2”及“1”和“3”的電阻值應(yīng)大致對(duì)稱。關(guān)閉管路上的
閥門,檢查智能電磁
流量計(jì)在充滿液體且液體無(wú)流動(dòng)的情況下的整機(jī)零點(diǎn)。
擁有市電旁路、逆變輸出兩種輸出方式,具備不間斷供電功能。擁有4種充電模式可選:僅太陽(yáng)能、市電優(yōu)先、太陽(yáng)能優(yōu)先、混合充電。先進(jìn)的M
PPT技術(shù),效率高達(dá)99.9%。自帶
鋰電池功能,PV有電即可鋰電池,支持鉛酸
電池、鋰電池接入。(太陽(yáng)能逆控一體機(jī)接線圖)待測(cè)物如圖所示左側(cè)為市電AC輸入
端子和AC輸出端子,中間為
蓄電池Battery輸入端子,右側(cè)為
太陽(yáng)能電池板PV輸入端子。ITECH測(cè)試解決方案使用IT6537CPV-SIM模擬太陽(yáng)能電池板給
逆變器供電,IT6533D模擬電池給逆變器供電,IT7600模擬市電輸入,實(shí)現(xiàn)待測(cè)物逆變器的BatteryInput、ACInput、PVInput3種輸入方式的模擬,完成相關(guān)功能測(cè)試。
晶閘管又叫
可控硅,是一種在晶體管基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的大功率半導(dǎo)體器件,主要并廣泛應(yīng)用于整流、逆變、調(diào)壓及關(guān)等方面,對(duì)可控硅性能進(jìn)行檢測(cè),對(duì)于電控系統(tǒng)的日常維護(hù)、保證正常運(yùn)轉(zhuǎn)具有十分重要的意義。可控硅分單向可控硅和雙向可控硅兩種,都是三個(gè)電極。單向可控硅有陰極(K)、陽(yáng)極(A)、控制極(G)。雙向可控硅等效于兩只單項(xiàng)可控硅反向并聯(lián)而成,即其中一只單向硅陽(yáng)極與另一只陰極相邊連,其引出端稱T2極,其中一只單向硅陰極與另一只陽(yáng)極相連,其引出端稱T2極,剩下則為控制極。
示波器的屏幕刷新一般只有幾十赫茲,每秒只能刷新幾十張圖片,這么多波形屏幕可以顯示的過(guò)來(lái)嗎?事實(shí)上,示波器里面還有波形器,如下圖所示,波形器會(huì)將多幀波形一張圖片,屏幕每秒雖然只刷新了幾十張圖片,但是每張圖片里包含成千上萬(wàn)幀波形,所以波形刷新率再高屏幕都是可以顯示的過(guò)來(lái)。準(zhǔn)備工具1.被測(cè)示波器2.測(cè)量示波器3.
信號(hào)發(fā)生器4.2根BNC轉(zhuǎn)BNC線示波器每采樣一幀波形,都會(huì)在Auxout輸出一個(gè)脈沖信號(hào),這個(gè)Auxout接口通常和示波器其他BNC通道口在一起,因此我們可以測(cè)量Auxout信號(hào)來(lái)測(cè)量示波器的波形捕獲率。
半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓,晶圓測(cè)試,芯片封裝和封裝后測(cè)試組成,晶圓和芯片封裝討論較多,而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化,下面集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容,主要集中在WAT,CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、、封裝流程示意圖WAT(WaferAcceptanceTest)測(cè)試,也叫
PCM(ProcessControlMonitoring),對(duì)Wafer劃片槽(ScribeLine)測(cè)試鍵(TestKey)的測(cè)試,通過(guò)電性參數(shù)來(lái)監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定,CMOS的電容,電阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer從Fab廠出貨到封測(cè)廠的依據(jù),測(cè)試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上,由WATRecipe自動(dòng)控制測(cè)試位置和內(nèi)容,測(cè)完某條TestKey后,ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey,直到整片Wafer測(cè)試完成。
便攜式熱工儀表檢定儀(以下簡(jiǎn)稱“檢定儀”)是我們研制發(fā)的一種新型的熱工儀表
檢定裝置。該產(chǎn)品采用大規(guī)模集成電路、數(shù)字顯示技術(shù),把標(biāo)準(zhǔn)電壓(毫伏)發(fā)生器、調(diào)節(jié)、顯示組成一體,具有操作簡(jiǎn)便、讀數(shù)準(zhǔn)確、重量輕、體積小等優(yōu)點(diǎn)。改變了以往對(duì)二次熱工儀表檢定所采用的逐盤轉(zhuǎn)動(dòng)直流
電位差計(jì)進(jìn)行平衡讀數(shù)的傳統(tǒng)方法,提高了檢定效率。另外,設(shè)有電勢(shì)正負(fù)轉(zhuǎn)換關(guān),為電子電位差計(jì)等具有溫度補(bǔ)償?shù)臒峁x表的零位檢定與修理了方便。